タグ：表面欠陥検出
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磁粉探傷試験（MT）
目的 表面欠陥検出 試験体を磁化して磁粉を散布。肉眼では見えない微細な表面きずを高精度に検出 磁粉探傷試験とは MT（Magnetic Particle Testing）と呼ば…詳細を見る -
浸透探傷試験（PT）
目的 表面欠陥検出 浸透液・除去液・現像剤を用いて、表面に開口した微細なきずを拡大して可視化 浸透探傷試験とは 浸透探傷試験（PT：Liquid Penetrant Testing…詳細を見る -
渦電流探傷試験（ET）
目的 表面欠陥検出 導電性のある試験体に電流を流し、電流の変化を検出してきずの有無を判定 渦電流探傷試験とは 渦電流探傷試験（ET:Eddy Current Testing）と…詳細を見る
